Идентификация заряженных частиц низких и средних энергийВ экспериментах по исследованию структуры ядер и механизмов ядерных реакций почти всегда необходимо не только измерять энергию частиц, но и идентифицировать их. По мере роста энергии и массы бомбардирующих частиц растет число открывающихся каналов реакций, а соответственно и набор образующихся ядер. Проблема надежной идентификации продуктов реакций особенно остро стоит в физике тяжелых ионов. Рассмотрим различные методы идентификации частиц. Идентификация на основе измерений удельных потерь энергии и полной энергии (ΔE-E-метод) Этот метод является основным при
исследовании реакций с легкими ионами (1Н, 2Н,
3Н, 3Нe, 4Нe). В нем используется
телескоп детекторов, состоящий из тонкого
прострельного детектора ΔE и детектора полного
поглощения энергии E. (В качестве ΔE
где dE/dx - удельные потери энергии в прострельном детекторе, d - его толщина. Формулу для удельных потерь Бете-Блоха в нерелятивистском случае, пренебрегая слабо зависящим от энергии логарифмическим членом, можно записать в виде
где k - коэффициент, не зависящий от массового
числа A и заряда Z частицы. AZ2 носит название
параметра идентификации. Величина сигнала ΔE
Чем тяжелее ионы, тем указанные
факторы сильнее ограничивают возможности ΔE
На рис. 3. показана примерная блок-схема электроники для идентификации частиц ΔE-E-методом.
ΔE- и E-каналы
идентичны. С одного из выходов спектрометрического
усилителя снимается биполярный сигнал,
который поступает на временной
одноканальный анализатор. Он служит для
выделения нужного амплитудного
(энергетического) диапазона и для получения
временной метки. В данном случае она получается с
помощью метода
привязки по нулю биполярного сигнала. Сигналы
с временных одноканальных анализаторов
поступают на схему совпадений, которая управляет
линейными воротами. Таким образом, линейные
ворота пропускают только сигналы, которые
находятся в интересующем энергетическом
диапазоне и совпадают в пределах разрешающего
времени. Сигналы с линейных ворот поступают в АЦП и далее в
систему двумерного анализа. Теперь можно
выделить области двумерного спектра,
соответствующие определенным частицам, и
спроецировать эту область на ось Е, получив,
таким образом, амплитудные (энергетические)
спектры для отдельных частиц. В полученных таким
образом спектрах зависимость между энергией
частицы Е и номером канала n нелинейная, так как в Е-канале регистрируется не
вся энергия Е, а только оставшаяся после прохождения Δ
Коррекцию потерь в ΔE Идентификация на основе измерений энергии и времени пролета (E-t-метод)
Метод времени пролета является основным для измерения энергетических распределений нейтронов. Детектор используется в этом случае для того, чтобы получить информацию только о времени попадания в него нейтрона. В случае заряженных частиц нет проблем получения с детектора также и энергетической информации. Для нерелятивистских частиц время пролета связано с кинетической энергией соотношением
где tf - время пролета в наносекундах, d -
пролетная база в метрах, A - массовое число
частицы в атомных единицах массы, E - кинетическая
энергия частицы в МэВ. Таким образом,
одновременно измеряя энергию и время пролета
можно провести идентификацию частиц по массам,
измеряя двумерные распределения
энергия - время пролета. Ионы, имеющие
близкие массы, но разные заряды, естественно
различаться не будут.
Представим (5) в следующем виде
При гауссовом распределении и ΔА = 0.59 а.е.м. 95% частиц будут зарегистрированы в правильном массовом интервале. В табл. 1 приведены вычисленные по формуле (6) разрешения по массам для различных энергий и массовых чисел для установки с пролетной базой 1 м и временным разрешением 1 нс. Таблица 1. Разрешение по массам для частиц различных энергий и масс.
На рис. 6 показана блок-схема электроники, которая может быть использована для идентификации по E-t-методу.
Импульсы детектора поступают в зарядочувствительный
предусилитель. С зарядочувствительного
предусилителя сигналы поступают как на быстрый, так и на
спектрометрический
усилитель. Сигналы быстрого усилителя поступают
на быстрый
дискриминатор, который служит для временной
привязки. Стандартные таймирующие сигналы от
быстрого дискриминатора поступают на стартовый
вход ВАКа.
На стоповый вход поступают сигналы от другого
быстрого дискриминатора, который формирует
таймирующие сигналы, используя периодические
модуляции пучка (например, ВЧ циклотрона).
Импульсы ВАКа, амплитуда которых
пропорциональна времени пролета поступают в АЦП. В другой АЦП
поступают сигналы со спектрометрического
усилителя, амплитуда которых пропорциональна
энергии. Сигналы АЦП поступают в систему
двумерного анализа, как и в Δ Идентификация с помощью магнитного анализаИз уравнения магнитного анализа
где А - массовое число иона, q - его заряд, Е -
кинетическая энергия иона, В - напряженность
магнитного поля, R - радиус кривизны иона в
магнитном поле, следует, что фиксируя B и R в
магнитном спектрометре и одновременно измеряя
кинетическую энергию E, можно определять
отношение массового числа к квадрату ионного
заряда, т.е. производить идентификацию. Объединение методов идентификацииДля надежной идентификации нуклидов в широком диапазоне массовых чисел А и атомных номеров Z созданы установки, в которых используются все три метода идентификации. Запишем уравнения идентификации в следующем виде
Массовое число А входит во все три уравнения. В то же время атомный номер Z прямо не входит ни в одно из них. Однако, используя данные по удельным потерям можно рассчитать потери энергии в тонком ΔE-детекторе, получив еще одно уравнение идентификации [1]
Использование кривой Брегга для идентификации частиц Кривая зависимости удельных
ионизационных потерь энергии от пробега (кривая
Брегга) - "визитная карточка" для заряженной
частицы. В начале 80-х было предложено
использовать ее для идентификации частиц [4]. Для
реализации этой идеи были созданы
соответствующие ионизационные камеры. Идентификация частиц с помощью ионизационной
камеры с электродами, перпендикулярными
траектории частицы
|
Рис. 9. Схемы ионизационной камеры и BCS-метода. |
На рис. 9 показана схема ионизационной камеры с электродами перпендикулярными траектории частицы. Расстояние между катодом и сеткой Фриша больше, чем максимальный пробег идентифицируемых частиц, расстояние между сеткой Фриша и анодом меньше, чем минимальный пробег идентифицируемых частиц. Детектируемые частицы через тонкое входное окно попадают в камеру, заполненную газом. (Входное окно - тонкая пластиковая пленка, расположенная максимально близко к катоду, катод в этом случае представляет собой сетку. Катод или часть его можно сделать из металлизированной пленки, тогда одновременно он будет служить и входным окном.) Заряженная частица вызывает ионизацию газа. Распределение электронной плотности вдоль трека частицы соответствует кривой Брегга. Возникающие в результате ионизации электроны с постоянной скоростью движутся в однородном электрическом поле по направлению к сетке Фриша. (Однородность электрического поля обеспечивается формирующими электродами, напряжение на которые подается от делителя напряжения.) Сетка Фриша экранирует анод от зарядов, которые находятся между ней и катодом. (Для того чтобы не допустить сбора электронов на сетке Фриша, электрическое поле между сеткой и анодом должно быть больше, чем между катодом и сеткой.) Таким образом, собираемый на аноде заряд определяется только электронами, движущимися между сеткой Фриша и анодом. Это означает, что форма токового сигнала на аноде - зеркальное отражение кривой Брегга. Для извлечения полезной информации, содержащейся в токовом сигнале с анода, применяется как аналоговая, так и цифровая обработка сигналов.
Рис. 10. Двумерное распределение Е-ABP. |
При аналоговой обработке сигнал с анода поступает на зарядочувствительный предусилитель. С предусилителя сигнал подается на два усилителя. Один из них имеет большую постоянную времени (~6-8 мкс) так что происходит интегрирование всего сигнала и амплитуда выходного сигнала пропорциональна энергии частицы. Другой усилитель имеет заметно меньшую постоянную времени, приблизительно равную времени пролета электронов от брегговского пика между сеткой Фриша и анодом (~0.1-0.5 мкс), его амплитуда пропорциональна амплитуде токового сигнала ABP и, соответственно, заряду иона. Ионы, с разными энергиями, но с одинаковыми зарядами, испытывают приблизительно одинаковые удельные потери в области брегговского пика. На рис. 10 показано распределение Е-ABP. Область ABP = const определяется расстоянием между сеткой Фриша и анодом и соответственно связанной с ним постоянной времени формирующих цепей усилителя. Когда пробег иона меньше этого расстояния, в обоих усилителях интегрируется весь сигнал и идентификация оказывается невозможной.
Рис. 11. Эталонные сигналы. |
При цифровой обработке сигнала используются быстрые параллельные АЦП, позволяющие зафиксировать форму сигнала и провести идентификацию не только по Z, но и по массовому числу А, по крайней мере, для легких элементов. Это можно сделать, например, используя эталонные сигналы, полученные для различных изотопов, и сравнивая форму измеренного сигнала с эталонными (см. рис. 11).
На рис. 12 показана схема ионизационной камеры с электродами, параллельными траектории частицы.
Рис. 12. Чувствительный к пробегу телескоп детекторов. |
Рис. 13. Двумерное распределение V1(V2). Видны локусы 6Li, 9Be, 10B, 12C, 14N и 16O. |
В случае резистивного анода сигналы V1 и V2
снимаются с его противоположных концов. Если
пробег частицы R больше длины ионизационной
камеры L, то она работает как Δ
(x, x + dx)
, | (9) |
, | (10) |
где энергия частицы в точке x
. | (11) |
Здесь E(0) - энергия частицы в начале пролета через камеру. После интегрирования (9) и (10) получим
, | (12) |
(13) |
Рис. 14. Секционированный анод. |
Сигналы V1 и V2 используются для идентификации. На рис. 13 показано двумерное распределение V1(V2).
Вместо резистивного анода можно использовать анод состоящий из двух частей (см. рис. 14). Ширины ламелей можно подобрать такими, что кривые V1(V2) будут иметь линейные участки в широком энергетическом диапазоне и довольно большом диапазоне Z. На рис. 15-16 показаны результаты расчетов V1(V2) с анодом, оптимизированым для 24Mg, и с резистивным анодом. Видно, что линейность сохраняется в довольно широком диапазоне Z.
Рис. 15. Рассчитанные кривые kV1(kV2) для резистивного анода. Загибы у 20Ne и 12С возникают при энергиях, когда пробег ионов в камере больше ее длины. |
Рис. 16. Рассчитанные кривые kV1(kV2) для анода состоящего из двух частей с оптимизированными для 24Mg ширинами ламелей. |