1. Ангармонизм колебаний решеткиЕсли бы решетка была стационарной, как это считалось при рассмотрении, например, зонной теории, то потенциальная энергия кристалла была бы равна сумме вкладов от всех различных пар:
Если учесть тепловые колебания, то
где r(Ri), r'(R') - мгновенные положения в узле (Ri), S(Ri) = r(Ri) - Ri - смещение i-того атома из узла. Разлагая в ряд Тейлора: f(r + a) = f(r) + af(r) + 1/2 (a)2f(r) + 1/3! (a)3f(r)+... полагая r = R-R' и a = S(Ri) - S(Rj) = Sij
Первый член: N/2 iV(Ri)
= ueq - есть потенциальная энергия кристалла
в равновесии (каждый атом жестко закреплен в
равновесном положении).
4-й и следующие члены дают ангармонические поправки. С учетом ангармонизма
На практике очень часто останавливаются на учете кубического члена, пренебрегая остальными, хотя, строго говоря, этого недостаточно. Проявления ангармонизма:
Тепловое расширение твердых тел. С учетом ангармонизма в классическом
подходе сила взаимодействия между атомами
и среднее отклонение <x> = xf(x)dx / [f(x)dx] = /2 kBT (8.7) ************** Пояснение************* A=(/2kBT)1/2, <x> = (/2KBT)1/2o exp(-x2/2kBT) (x + x4/3kBT)dxexp(- x2)dx = 3/41/2 5/2 **************************************** Коэффициент линейного расширения
где а -период решетки, ~ (10-50)10-6 1/K для типичных металлов. Т.о, учет ангармонизма в классическом подходе приводит к постоянной, не зависящей от температуры, величине коэффициента теплового расширения . На самом же деле, с понижением температуры падает. Причем для металлов ~ Т, для диэлектриков ~ T3 при низких Т. Более строгий подход должен базироваться на реальной зависимости фононного спектра от температуры и от объема. Температурная зависимость коэффициента расширения. Параметр Грюнайзена. Покажем, что коэффициент теплового расширения пропорционален теплоемкости CvV:
где - т.н. коэффициент Грюнайзена ( Gruneisen constant, не путать с коэффициентом упругости в предыдущем параграфе),
Действительно, коэффициент теплового расширения можно записать в виде = 1/l (l/T)P = 1/3 V(V/T)P[-V/B (P/V)T] Учитывая, что (V/T)P = -(P/T)v/(P/V)T, получаем
Согласно 1-му и 2-му закону термодинамики dQ = dU + pdV = TdS; (dS = dQ/T) Откуда (U/T)vdT + (U/T)TdV + pdV = T[(S/T)vdT + (S/V)TdV] И, соответственно,
Отсюда мы можем выразить давление лишь через
внутреннюю энергию. Для этого заметим, что
Интегрируя, получаем P = -(U/V)T + TdT' /V[1/T'(U/T’)V] или
Для внутренней энергии твердого тела воспользуемся выражением для гармонического осциллятора:
где Ueq - потенциальная энергия в равновесии, а nk,s = 1/[exp(ks /kBT) - 1]. Однако в отличие от выводов для гармонического осциллятора, будем считать, что частоты колебаний зависят от размеров осциллятора и, подставляя U Р = 1/3B(P/T)v, получаем
Заметим, что аналогичный вид имеет теплоемкость (6.43)
Если ввести парциальную теплоемкость
и определить величину ks - параметр (постоянную) Грюнайзена, для моды k,s, как отрицательную логарифмическую производную частоты этой моды по объему, т.е.
и полный параметр Грюнайзена:
то тогда получаем
В данном представлении содержит зависимость частот от объема, которая в простейших моделях содержится в одинаковом для всех мод множителе. В этом случае k,s совпадают для всех мод и = k,s. В модели Дебая, например, все частоты нормальных мод меняются линейно при изменении частоты обрезания D, поэтому
Модуль всестороннего сжатия, В, слабо зависят от
температуры, поэтому все теории, в которых параметры
γk,s считаются
постоянными, предсказывают, что коэффициент теплового расширения должен иметь
такую же зависимость от температуры, как и удельная теплоемкость. В частности,
тремится к постоянному значению при Т>> θD
и α ~ Т3
при Т 0
(для неметаллов). Электронная составляющая в коэффициенте расширения. Для металлов необходимо учесть вклад электронов проводимости в коэффициент теплового расширения. Можно проделать последовательно все операции, которые мы делали при выводе соотношения для зависимости (Т) для решетки, а именно, применяя схему: U = U0 + 2/6
(kBT)2g(ET) можно найти вклад электронов. Мы поступим проще. Сразу запишем выражение для давления. Можно показать, что для энергетической зависимости плотности электронных состояний g(E)~E1/2 имеем
Отсюда следует, что (считая, что внутренняя энергия решетки электронов проводимости одинаковы):
т.е.
Т.к. коэффициент Грюнайзена ~ 1, то el сравнимо с lat при тех температурах (низких) при которых CVel сопоставимо с (или больше, чем) Cvlat , т.е. при Т <10 K. Т.е. для металлов при Т~ 0 К, ~ T (а не ~Т3 как для диэлектриков). Такое поведение подтверждается экспериментом. 2. Теплопроводность. Теплопроводность в моделях независимых электроновТеория Друде. Как мы видели в Л1, Друде, предполагал, что все тепло переносится электронами и коэффициент теплопроводности, k , согласно (1.9), имеет вид
где - время релаксации, - длина свободного пробега, v - скорость электрона. Moдель Зоммерфельда. В выражении (8.26) подставляем вместо Cv = 3/2 kB, как это делал Друде и что не соответствует действительности, выражение (6.60) с учетом соотношения (6.56) для плотности состояний электрона:
или
А вместо v2 = kBT/m возьмем значение vF2 = 2EF/m, превышающее v в TF/T , т.е. в 100 раз. Подставляя, получаем оценку вклада электронов в теплопроводность в теории Зоммерфельда:
Теплопроводность решетки. Теплопроводность блоховских электронов. В идеальном кристалле волновая функция электронов "живет" бесконечно долго. Поэтому теплопроводность блоховских электронов elB = . Нарушает это равенство неидеальность кристалла, как принципиально неустранимая (например, тепловые колебания атомов, электрон-электронные столкновения) так и дефекты, примесные атомы, концентрация которых может быть снижена до пренебрежимо малых величин. Фононный механизм. Тепловая
энергия содержится в колебательных нормальных
модах кристалла. В диэлектриках этот механизм
является основным, поскольку свободных
электронов в диэлектриках нет. При низких
температурах разрешенные энергии нормальных мод
квантованы и передача энергии, сопровождающая
теплопроводность, осуществляется через
механизм, описываемый в представлении о фононах.
где G - произвольный вектор обратной решетки. В отличие от аналогичных процессов с электронами, число фононов не сохраняется. В частности, для 3х фононного процесса
N- и U-процессы: процессы переброса Паерлса Процессы с G = 0 в (8.29б), (8.30б)
происходят без участия решетки. Такие процессы
называются, в соответствии с терминологией
Пайерлса (R. Peierls, 1929) нормальными или
N-процессами. В противном случае, G 0, рассеяние
называется U-процессом (Umklapprozesse) или процессом
переброса Пайерлса. Температурная зависимость теплопроводности решетки Наиболее простой моделью для анализа температурной зависимости теплопроводности является модель газа фононов (МГФ). МГФ оперирует с такими понятиями, как средняя длина свободного пробега фонона ph, эффективное время релаксации = ph/vs, обратной величиной которого, 1/, является средняя частота столкновений фононов. Аналогично тому, как это сделал Друде для газа электронов (см. (1.9), (8.26)), мы можем получить теплопроводность в МГФ:
где Сv удельная теплоемкость, связанная с колебаниями решетки. Величины Сv, или ph определяют температурную зависимость решеточной теплопроводности. Как зависит Сv от Т мы уже знаем из Л6. Зависимость от Т оказалась более деликатной темой. Рассмотрим 2 случая. а) Т >> D. В этом случае:
Следовательно, вероятность процессов переброса, пропорциональная ns , с ростом температуры пропорционально увеличивается плотность фононов, а, следовательно, частота столкновений 1/. Следовательно, длина свободного пробега фонона обратно пропорциональна температуре. Это согласуется с экспериментом. Обычно,
где х = 1-2. б) Т<< D.
Поэтому число фононов способных к U-процесу, падает по экспоненте с уменьшением температуры. Следовательно, можно ожидать, что при Т << D, эффективное время релаксации, входящее в теплопроводность, должно изменяться как
где T0 ~ D.
Итак, для диэлектриков при очень низких температурах, Т<Tmax, теплопроводность κ ~ T3 , затем Tmax < Т <D κ ~ exp(T0/T), далее темп уменьшения спадает и заменяется медленным спаданием κ ~ 1/T из-за увеличения числа рассеивающих фононов. Теплопроводность металлов. Теплопроводность металлов должна складываться из теплопроводности фононной (теплопроводность решетки) и электронной подсистем:
Однако механизм решеточной теплопроводности в металлах в значительной мере
маскируется электронным механизмом переноса тепла. В изоляторе длина свободного
пробега фонона κlat = 1/3 Cv vsλ +λph 1/3 3R 105 3·10-6 0.3 R. Для одновалентного металла: λе
= 10-5 см, vF
~ 108 см/сек, Cve = 0.1 R и
В максимуме κ(Т) значения
отличается не слишком сильно для разных веществ (от 103 до |